SPECTRO ARCOS型ICP光譜儀定義元素分析新高度
發(fā)布時間：2023-09-26 14:22 瀏覽次數(shù)：1556
垂直雙觀測結構（DSOI）提升了靈敏度，同時降低了樣品基體效應
以一當二：炬管即可垂直又可水平放置的主機，可快速切換以滿足真正的雙向觀測要求
ORCA光路結構：同時讀取130-770nm譜線信號，和通常的中階梯光柵+棱鏡交叉色散的光學系統(tǒng)相比，光強度信號提升可高達5倍，紫外/遠紫外區(qū)的靈敏度提高無與倫比
SPECTRO ARCOS型等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）超越了當代工業(yè)和科研領域金屬、化學、石化、材料等行業(yè)元素分析的要求。
MultiView設計讓使用者可以在90秒內將垂直炬管“旋轉”成水平炬管，反之亦然。垂直炬管附加了雙觀測光路接口以增加光通量，提高了靈敏度，降低了基體效應，兩全其美。
由CMOS組成的線性陣列檢測器，無需制冷，無溢出效應，可記錄樣品基體強譜線中微弱的目標譜線信號，檢測動態(tài)范圍更寬。
SPECTRO ARCOS具有低故障、高可靠、產品壽命長的特點，使用成本很低。主機底座按照人體工程學設計，將無需吹掃的遠紫外密閉光路、風冷系統(tǒng)、智能閥切換（選件）、便攜式視頻裝置等多項斯派克與眾不同的技術集合在一起。
新的SPECTRO ARCOS有六種機型可選，滿足客戶對觀測方式和波長范圍的各種不同要求。
